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电动检测系统

EMP 2021电子制造和生产手册制造/生产技术、硬件和服务

Vi Technology为K系列3D AOI(自动光学检查)系统提供的新NEO平台嵌入了基于机器学习(ML)的技术,该技术在保持高性能和灵活性的同时,大大缩短了编程时间。

基于机器学习技术的新算法旨在通过自主组件识别和辅助模型创建实现编程任务的自动化。实际上,只需点击几下,就可以对包含数百或数千个组件的全新电路板进行检查。

通过将其最新的高速激光三维扫描头与新的智能场景分析算法相结合,检查时间比上一代快50%。通过检测异物、根据IPC要求进行部件悬垂测试以及新的功能强大的光学特征验证算法,扩展了测试覆盖范围。


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